Прибор для проверки микросхем своими руками

Прибор для контроля работы ТТЛ микросхем

Еще есть устройства, которые содержат ТТЛ-микросхемы. В ремонте этих девайсов длительная и однообразная работа логическим пробником непродуктивна. Дело в том, что в статике микросхемы часто работали нормально, а при подаче на них тактовых импульсов работали неправильно.

Например: разряд счетчика может иметь выходные импульсы такие же, как и предыдущий или последующий разряды; один из входов или выходов простых логических микросхем могут иметь обрыв или «сидеть» на одном из уровней, а в статике логика работы будет совпадать.

Кто занимается ремонтом, тот хорошо знает какое счастье быстро найти подобную неисправность. Поэтому я сделал простой прибор для контроля работы микросхем без их выпаивания в динамическом режиме работы.

Преимущество предлагаемого прибора от аналогичных приборов заключается в простоте схемного решения, возможности проверки любых типов микросхем (при соответствующей элементной базе), возможности проверки микросхем без выпаивания из платы в динамическом режиме и одиночных микросхем из кассы.

К недостаткам можно отнести невозможность однозначной проверки некоторых сложных микросхем, в которых используются короткие запускающие импульсы, генераторов. Невозможность проверки микросхем, работающих на больших частотах, хотя последний недостаток можно попытаться решить с помощью применения в приборе более быстродействующей серии микросхем. Основной недостаток — необходимость иметь набор образцовых микросхем аналогичных проверяемым микросхемам.

Идея прибора заключается в сравнении выходных сигналов исследуемой микросхемы с выходными сигналами образцовой микросхемы. При чем на входа образцовой микросхемы подаются входные сигналы проверяемой микросхемы.

Для всех типов микросхем оптимально использовать микросхемы цифровых компараторов: К555СП1, К531СП1 -ТТЛ; К561ИП2 -МОП. Можно использовать микросхемы четырехразрядных полных сумматоров или схем исключающее ИЛИ с соответствующей логикой сравнения.

На рис.1 показана принципиальная схема прибора для проверки МОП микросхем. Сигналы проверяемой микросхемы со щупа поступают на разъём ХР1 и через переключатели SB1-SB16 подаются на микросхемную панель XS1 или на входа А компараторов DD1-DD4.

Результат сравнения компараторов суммируется микросхемой DD5 и через триггер DD6 индицируется светодиодом HL1. При отжатом переключателе SB входной сигнал подаётся на соответствующий вывод панели под микросхему. При нажатом переключателе SB входной сигнал поступает на входа А компараторов DD1-DD4, а аналогичный вывод микросхемной панели соединяется с входами В компараторов DD1-DD4.

Таким образом, переключатели SB должны быть нажаты только те, номера которых соответствуют выходам проверяемой микросхемы (даже если они не используются). Номера переключателей, которые соответствуют входам проверяемой микросхемы и питанию, должны быть отжаты.
Вначале работы с прибором необходимо выписать со справочника все номера выходов микросхем, которые будут проверяться. Затем в панель вставляется образцовая микросхема, и устанавливаются переключатели SB. Полезно на передней панели прибора сделать надпись «? ВЫХОДА -НАЖАТЬ!».

Далее подключается щуп к проверяемой микросхеме в соответствии с ключом. ВНИМАНИЕ! Все операции необходимо проделывать с выключенным питанием прибора и исследуемой схемы. Важно проверить правильность установки образцовой микросхемы, щупа и переключателей. В противном случае можно вывести из строя годную микросхему. Так как МОП — микросхемы не выдерживают незадействованных входов, на все входа цифровых компараторов DD1-DD4 через резисторы R1-R32 подано напряжение равное чуть больше половины напряжения питания. Поэтому, если произошло неправильное подключение, то одна из микросхем может выйти из строя.

Далее подаётся питание и кратковременно нажимается кнопка SB17, если в это время светодиод HL1 не светится, то проверяемая микросхема исправна. Если во время нажатия кнопки SB17 светодиод загорается, а потом потухает, то проверяемая микросхема, скорее всего, годна. Это происходит потому, что сказывается задержка прохождения сигнала и тем больше, чем короче длительность импульса. Передний фронт сигнала под воздействием ёмкости монтажа и сопротивления интегрируется и происходит небольшое смещение выходного сигнала. В результате на выходе микросхемы DD5 кратковременно появляется уровень логического ноля. Что в свою очередь даёт возможность обнулить триггер DD6.1 кнопкой SB17. Когда на выходе DD5 присутствует постоянный уровень логической единицы (полное равенство кодов на входах компараторов), триггер DD6.1 обнулить невозможно. Если проверяемая микросхема не годна, то светодиод горит постоянно.

Микросхемы из кассы сравниваются с микросхемой на любой работающей плате. Проверив микросхему на плате, поочерёдно вставляют в микросхемную панель микросхемы из кассы и проверяют их.

Конструктивно прибор состоит из печатной платы, на которой установлены микросхемы и передней панели. На передней панели установлены переключатели типа П2К с независимой фиксацией, кнопка типа КМ1-1 и панель под микросхему типа РС16. Сбоку установлен разъём типа МРН-32. Все коммутационные элементы могут быть заменены на любые из имеющихся в наличии. Все резисторы типа МЛТ-0,125 установлены на переключателях. Плата и передняя панель соединены монтажными проводами. Напряжение питания лучше брать с проверяемого устройства. Если такой возможности нет, то напряжение питания должно быть не менее чем напряжение проверяемой платы.

Рассмотрим конструкцию щупа. Щуп (рис.2) сделан из швейных игл одинаковой длины (40мм), двух плат с металлизированными отверстиями заводского изготовления под 16 выводов (макетная плата) и стяжных винтов. Плата заводского изготовления желательна, так как на ней более точно просверлены отверстия под микросхему. Иглы вставляются в отверстия двух плат так, чтобы их концы одновременно становились на плоскость, и припаиваются к верхней плате с помощью аспирина. Затем платы стягиваются винтами так, чтобы свободные концы игл были около 15 мм. К иглам припаивается жгут из провода МГТФ 0,07 с ответной частью разъёма МРН-32. Длина жгута — не более 25 см. Сверху щуп закрывается защитной крышкой.

Щуп устанавливается на микросхему со стороны корпуса сначала одним рядом игл, потом с небольшой натяжкой вторым рядом игл. Таким образом, выводы микросхемы оказываются зажатыми между иглами. Обеспечивается хороший контакт выводов микросхемы с иглами щупа, даже если плата покрыта лаком.

Литература: Гречушников В. Тестер для проверки микросхем.

Источник

Как сделать тестер микросхем своими руками

Некоторое время назад я купил IC тестер от Genius. Модель G540 позволяла программировать различные IC, была способна тестировать CMOS и TTL IC. Последняя функция была достаточно интересной, так как это позволяло ремонтировать и проверять вещи намного проще — ты знаешь, какая часть имеет дефект, вместо того, чтобы заменять все части и микросхемы по одной в поисках неисправной.

Девайс работал хорошо до тех пор, пока я не перешел на Win7. На этом этапе он начал создавать проблемы, не распознавался в некоторых случаях, а сама программа могла зависнуть в момент IC тестирования. В поисках альтернативы я решил сделать тестер своими руками с некоторыми дополнительными улучшениями.

В результате я получил IC tester на Ардуино с возможностью вывода результатов проверки на серийный порт, при этом он работает в большинстве случаев (но до сих пор есть кое что, что можно улучшить).

Шаг 1: Что было в начале

Оригинальный тестер от Genius работал хорошо, но вначале нужно было сделать множество кликов, выбирая девайс и т.д. Всегда нужно было запускать программу и самое важное, что не было никакой информации об итогах тестирования. Если IC не был найден, то невозможно было определить по какой причине: из-за поломки, или из-за некорректного цикла тестирования (что случается с некоторыми IC).

Идея состояла в том, чтобы устранить эти недостатки разработав на Ардуино Нано свой тест.

Шаг 2: Схема

Схема тестера конденсаторов довольно проста. Центральным элементом является Ардуино нано. Ввиду ограничения доступных портов, максимальное количество тестируемых пинов равняется 16 (чего вполне хватает для большинства IC).Чтобы добиться этого, коммуникация с экраном и EEPROM, содержащим тестовые данные, осуществляется через I2C. Нано берёт на себя коммуникацию с компьютером и отображает детальные результаты тестов.

Дисплей LCD — стандартный экран 16*2 с I2C конвертером, он занимает всего 2 пина на Ардуино.

Тестовые данные хранятся в I2C EEPROM AT24C512. Там хранится скрипт, который шаг за шагом проводит тестирование. Для каждого типа IC посылается последовательность логических входных данных, и определенные данные ожидаются на выходе. В случае если данные не соответствуют ожиданиям, скрипт перепрыгивает к следующей возможной части исполнения. В данной версии девайса EEPROM нужно отдельно программировать программатором. Я не нашел способа переправить 25кБ данных кроме как через серийный порт.

Тестовые скрипты находятся в текстовом виде, так что их можно легко модифицировать, синтаксис в скетче Ардуино.

При тестировании, несколько сигналов посылается на тестируемую часть, которая не соответствует спецификации и проверяются все возможные комбинации. Чтобы предотвратить перегрузку Arduino и детали, все соединения проходят через резисторы на 680 Ом. Это создает много сигналов «ниже спецификаций», что приводит к случайным выходам тестируемой ИС. Тем не менее, если IC подключается к тестируемым сигналам, выход тестируемой IC можно использовать.

Тестирование начинается с одного коммутатора, подключенного к одному из аналоговых входов.

Шаг 3: Девайс в работе

В приложенном видео можно посмотреть тестер в работе.

Как и его фабричные собраться, тестер работает не со всеми IC. С некоторыми работать сложно, так как не совсем понятно, какие сигналы нужно ожидать. Как только у меня будет свободное время, я проведу некоторую оптимизацию.

Шаг 4: EEPROM для тестера

Кто-то из вас может задаться вопросом, можно ли загрузить тестовую информацию в EEPROM без использования программатора.

После некоторых изысканий я дописал код, чтобы сделать эту задумку возможной. Очень важным аспектом загрузки данных через Serial Monitor Ардуино является то, что нужно выставить значение baudrate на 1200! При этом загрузка кода займёт некоторое время, но вы обезопасите себя от потери данных.

Загрузите набросок программы, откройте Serial Monitor и дождитесь, пока перед вами не появятся опции. Нажмите «d», а затем Enter. Тестер войдёт в режим загрузки. Просто вставьте всё содержимое test_16_full.dat и нажмите Enter. На экране начнут отображаться байты. «done» на мониторе будет означать, что данные успешно загружены.

Рассказываю как сделать какую-либо вещь с пошаговыми фото и видео инструкциями.

Источник

Пробники и тестеры

Далеко не всегда удается определить номинальное напряжение стабилитрона по его маркировке, особенно при разборе неисправной аппаратуры. Здесь приводится описание схемы несложного прибора, с помощью которого можно оперативно определить напряжение стабилизации стабилитрона, а так же, вообще понять .

При ремонте светодиодной подсветки экрана ЖК-телевизора требуется специальный блок питания с регулировкой выходного напряжения. Я предлагаю взамен него простой пробник на основе лампы накаливания 230 В, 15 Вт от холодильника. Если включить в электросеть последовательно с такой лампой хоть один .

Измерять коэффициент передачи тока базы транзисторов цифровыми мультиметрами популярных моделей практически невозможно, если длина выводов этих транзисторов недостаточна, чтобы вставить их в гнёзда розетки прибора. Но сегодня радиолюбители зачастую используют в своих конструкциях именно такие .

Принципиальная схема несложного самодельного устройства для проверки стабилитронов и варисторов. Устройство представляет собой усовершенствованный совмещенный вариант конструкций [1, 2]. Кроме проверки варисторов и стабилитронов этот прибор также можно использовать для проверки работоспособности .

Принципиальная схема самодельного осциллографического индикатора для простых проверок, содержит дисплей 8X8 светодиодов. Доступные большинству радиолюбителей сервисные и лабораторные осциллографы выпуска 70-80-х годов, обладают высокой точностью и достаточной функциональностью. Но они слишком .

Схема самодельного устройства для поиска скрытой электропроводки сети переменного тока 220 В. От множества аналогичных оно отличается тем, что не требует ни собственного источника питания, ни каких либо других приспособлений и измерительных приборов. При создании этого несложного прибора был .

Схема самодельного логического пробника, которым можно определять логические уровни, высокоомное состояние и наличие импульсных последовательностей в схемах на ТТЛ и КМОП микросхемах с питанием от 5 до 15V. Индикация на двух светодиодах, — HL1 горит когда высокий логический уровень, HL2 .

Схема самодельной приставки к мультиметру для определения исправности и напряжения стабилитронов. Сейчас российскому радиолюбителю доступна элементная база самых разных фирм и стран происхождения. С одной стороны, это хорошо, но с другой, — бывает очень трудно найти нужную, хотя бы краткую .

Схема самодельного генератора прямоугольных импульсов низкой частоты, частоту и амплитудукоторых можно регулировать в широких пределах. На рисунке приводится схема такого генератора. Частоту вырабатываемых им импульсов можно плавно регули ровать от 10 Гц до 10 кГц, а амплитуду от логического .

В наше время рынок заполнен самыми разнообразными батарейками: дорогими, дешевыми, хорошими и не очень, свежими и не совсем. Для определенности далее словом “батарейка” будем называть гальванический элемент на 1,5 В типоразмеров от ААА до D, другие типы в этой статье рассматривать .

Источник

ПРОСТОЙ ТЕСТЕР ДЛЯ ЛОГИЧЕСКИХ МИКРОСХЕМ

В радиолюбительской и профессиональной практике часто возникает необхо­димость проверить исправность простых цифровых микросхем. Использовать для этого сложные логические тестеры и анализаторы вряд ли целесообразно. Вполне можно обойтись тестером для проверки логических элементов различных микросхем.

Логический тестер простых цифровых микросхем комбинационной логики по­зволяет проверять исправность каждого в отдельности логического элемента (ЛЭ) микросхемы с логическими функциями двух входных переменных 2И, 2ИЛИ, 2ИСКЛ.ИЛИ и их инверсиями для популярных серий ТТЛ и КМОП. К ним относятся микросхемы функционапьных типов ЛАЗ, ЛА8, ЛА9, ЛА11-ЛА13, ЛА18, ЛА21, ЛА23; ЛЕ1, ЛЕ5, ЛЕ6, ЛЕ10, ЛЕ11; ЛИ1, Л И 2, ЛИ8; Л Л 1 , Л Л 2, ЛЛ4; Л П 5, Л П 8 , ЛП12; ТЛЗ серий ТТЛ (ТТЛ Ш) К155, К158, К131, К531, К555, КР1531, КР1533 и других, а также серий КМОП КР1554, 74 НС (1564) и типов КТЗ, ЛА7, ЛЕ5, ЛИ2, Л П 2, ЛП14, ТЛ1 серий КМОП К176, К561, 564, КР1561 1. Прибор позволяет определять ло­гическую функцию (в пределах шести указанных) и цоколевку микросхем с двух­входовыми ЛЭ. Кроме того, тестером можно проверять исправность работы бипо­лярных транзисторов, диодов и различных р-n переходов.

Простота конструкции и удобство пользования им, наряду с достаточно широ­кими функциональными возможностями и компактным с исполнением автономным питанием от батареи «Корунд», позволяют использовать этот прибор не только в любительской радиолаборатории или, например, при покупке приборов на радио­рынках, но и для входного контроля при мелкосерийном производстве РЭА.

Схема тестера приведена на рисунке. Генератор импульсов на DD1.1, DD1.2 с частотой около 20 Гц формирует с помощью двух двоичных делителей частоты на триггерах DD2.1, DD2.2 периодическую тестовую последовательность логиче­ских сигналов для формирования таблицы истинности логической функции двух входных переменных — 00, 01, 10, 11. Из этой тестовой последовательности обра­зуются опорные сигналы логических функций 2И (элемент DD3.1), 2ИСКЛ.ИЛИ (элемент DD1.3) и 2ИЛИ (элементы DD3.2, DD3.3). Выбор функции осуществляется с помощью переключателя SB3, элемент DD3.4 инвертирует сигнал функции, а ин­версия функции выбирается переключателем SB4 (например, 2И-НЕ, как показано на рисунке).

При равенстве проверяемого и опорного логических сигналов выходной сигнал ЛЭ сравнения равен нулю и светодиод не светится. Если же проверяемый и опор­ный сигналы различны, то соответствующий ошибочному проверяемому сигналу ЛЭ сравнения высоким выходным уровнем включает светодиод, индицируя неисп­равность данного ЛЭ (точнее, отличие логической функции элемента от опорной).

Для облегчения идентификации неисправного ЛЭ светодиоды удобно располо­жить вблизи соответствующих выводов проверяемой микросхемы (условно пока­занных на правом поле рисунка) контактной панели с DD5. При полностью исправ­ной микросхеме DD5 все светодиоды погашены, а при ошибке хотя бы в одном ЛЭ будет мигать или постоянно светиться один или несколько светодиодов, сигнали­зируя о неисправности. Таким образом, данный логический тестер позволит вы­явить один неисправный ЛЭ при остальных годных, что может оказаться полезным в радиолюбительской практике.

Переключателями SB1 и SB2 осуществляется выбор цоколевки проверяемой микросхемы в соответствии с приводимой таблицей (на рисунке показано положе­ние переключателей SB1, SB2 для проверки микросхем ЛА7, ЛЕ5, ЛП2 и других се­рий КМОП — К176, К561, 564, КР1561). Если цоколевка или логическая функция проверяемой микросхемы неизвестны, то их можно определить (в пределах функ­циональных возможностей данного тестера), перебирая положения переключате­лей SB 1, SB2, SA3. SB4.

Этим логическим тестером можно также проверять исправность биполярных транзисторов, диодов и различных р-n переходов. Для этого в схему введены эле­менты SB5, R17, R18, HL6_t HL7 и зажимы для подключения транзисторов «Э», «Б», «К» и диодов «VD».

Переключателем SB5 тестер переводится из режима проверки микросхем (показан на схеме) в режим проверки транзисторов. При верхнем по схеме поло­жении переключателя SB5 опорный логический уровень подается только на эле­мент DD4.4, а зажимы эмиттера «Э» и базы «Б» через резисторы R17, R18 «опраши­ваются» сигналами тестовой последовательности с неинвертирующих выходов триггеров. На другой вход элемента сравнения DD4.4, соединенный с зажимом «К» (коллектор), через резистор R16 поступает уровень, противофазный «эмиттерно- му» (с инверсного выхода триггера DD2.1).

КМОП: К561, К170, 564, КР1561

ТТЛ/ТТЛШ: К155, К555, 133, 533, К531, КР1533, КР1531 и др. КМОП: КР1554, 74НС(1564)

Цоколевка панели: вход, вход—выход

1,2 = 3 5, 6 = 4 8, 9= 10 12, 13* 11

2, 3 = 1 5, 6 = 4 8, 9= 10 11, 12= 13

1,2 = 3 4, 5 = 6 9, 10 = 8 12, 13= 11

Тмл (лог. функция микросхемы)

ЛП2(ИСКЛ. ИЛИ) ЛП14(ИСКЛ. ИЛИ) ТЛ2 (И-НЕ)

ЛЕ1 (ИЛИ-НЕ) ЛЕ5 (ИЛИ-НЕ) ЛЕб (ИЛИ-НЕ) ЛЕЮ (ИЛИ-НЕ) ЛЕ11 (ЙЛИ-НЕ)

ЛА11, ЛА13 (И-НЕ) ЛА21, ЛА23 (И-НЕ) ЛА18, ТЛЗ (И-НЕ)

ЛП5, ЛП12 (ИСКЛ. ИЛИ) ЛП8 (проверка по функ­ции ИЛИ)

При подключении к этим зажимам одноименных выводов исправного транзис­тора на его коллекторе формируется периодический сигнал, соответствующий ло­гической функции 2ИЛИ-НЕдля транзисторов структуры п-р-п и 2И-НЕдля тран­зисторов структуры р-п-р, т. е. выбор типа проводимости проверяемого транзис­тора осуществляется переключателями SB3, SB4. В одной из четырех фаз сигна­лов опроса транзистор включается по схеме с общим эмиттером (если пренебречь защитным резистором R17), при этом резистор R18 задает ток базы транзистора, а резистор R16 является его коллекторной нагрузкой.

Одновременно тестовая последовательность с неинвертирующих выходов триггеров DD2.1, DD2.2 подается на входы всех ЛЭ проверяемой микросхемы DD5, размещенной в контактной панели XS1. Транзисторы VT1, VT2 усиливают ток низ­кого логического уровня до величины, достаточной для подключения четырех вхо­дов ЛЭ серий ТТЛ К155, К531 и других. Резисторы R4-R11 защищают прибор и проверяемую микросхему при неправильном ее включении, исключают влияние неисправных (короткозамкнутых на выводы питания) входов микросхемы на другие входные цепи и дополнительно ограничивают величину ее входных токов. Если те­стер используется для проверки микросхем только КМОП серий, то сопротивление резисторов R4-R11 лучше увеличить до 1 МОм для контроля входных токов поряд­ка 1 мкА, а элементы VT1, VT2, R2, R3 можно исключить.

Выходные сигналы с проверяемых ЛЭ микросхемы DD5 подаются на входы ЛЭ сравнения микросхемы DD4. Резисторы R13-R16 проверяют нагрузочную способ­ность выходов DD5 (для микросхем КМОП) и необходимы для проверки ЛЭ с вы­ходами типа «открытый коллектор» (ТТЛ). На другие входы ЛЭ сравнения поступает опорный сигнал выбранной логической функции с переключателя SB4, а к выходам ЛЭ сравнения подключены светодиоды HL1-HL4, причем токоограничивающие ре­зисторы для светодиодов не нужны, поскольку выходной ток микросхемы DD4 ог­раничен на уровне нескольких миллиампер.

Если коэффициент усиления тока базы проверяемого транзистора меньше ве­личины 0.6R18/R16 (для указанных номиналов — меньше 10), то тестер будет счи­тать его неисправным. Меняя сопротивление резистора R18, можно устанавливать критерий отбора транзисторов по коэффициенту усиления тока. Таким образом, при годном транзисторе все светодиоды будут погашены, а в остальных случаях светодиод HL4 будет мигать.

Испытатель диодов с автоматическим определением полярности подключения аналогичен описанному в [5]. При подключении диода (или любого выпрямляюще­го перехода) к зажимам «VD» в произвольной полярности будет мигать тот из све­тодиодов HL6, HL7, который включен в том же направлении, что и диод, индицируя полярность его включения. При коротком замыкании в диоде мигают оба свето­диода, а при обрыве — не мигает ни один.

Блок питания тестера должен быть рассчитан на максимальный выходной ток не менее 150 мА при выходном напряжении не менее 7,5 В. Для проверки микро­схем КМОП возможно питание от батареи «Корунд», поскольку в этом случае ток потребления тестером от батареи не превышает 5 мА. Напряжение питания микро­схем тестера +5 В стабилизируется микросхемой DA1. На элементах VT3, R12 со­бран узел ограничения тока потребления проверяемой микросхемой по выводу пи­тания (выв. 14 DD5) на уровне 100 мА для защиты тестера при неправильном вклю­чении проверяемой микросхемы или если она «пробита» по цепи питания. Ограни­чение тока происходит за счет перехода транзистора VT3 из режима насыщения (при исправной микросхеме DD5) в нормальный режим усиления гока при фикси­рованном с помощью резистора R12 токе базы. Ток ограничения определяется ко­эффициентом усиления по току транзистора VT3 и резистором R12 и может быть изменен. Элементы DD1.4, HL5 предназначены для индикации режима токоограни- чения. Выключатель питания тестера (на схеме не показан) можно совместить с переключателями SB1, SB2, SA3 или связать с рычагом панели для автоматическо­го выключения тестера при смене микросхем.

Микросхемы DD1-DD4 заменимы аналогами из серий КР1661 или 564; DA1 — КР1157ЕН5 с любым буквенным индексом или КР142ЕН5А; транзисторы VT1, VT2- типов КТ315, КТ3102 и VT3 — типов КТ209, КТ345, КТ501, КТ626, КТ814 с любым буквенным индексом. И^ользуются другие транзисторы с малым напря­жением насыщения коллектор —эмиттер, необходимо только подобрать сопротив­ление резистора R12. Допустимые отклонения номиналов для резисторов — 20%, для конденсаторов — до 100%. Переключатели SB1, SB2, SB4, SВ5 — любые, например, П2К, a SA3 — ПД21 -3.

Панель желательно использовать с нулевым усилием (рычажный зажим). Для проверки микросхем в планарных корпусах серии 564, 1564, 133, 533 и другие) необходимо использовать специальную панель для таких корпусов. Авторский ва­риант прибора собран на макетной плате с монтажом проводом М ГТФ, при жела­нии радиолюбителю не составит труда разработать печатную плату, с учетом име­ющихся у него радиодеталей и корпуса.

Собранный без ошибок тестер прост в наладке. Следует только подобрать ре­зистор R12 узла защиты по питанию. Для этого между выводами 14 и 7 панели включить амперметр и подбором величины сопротивления R12 добиться показа­ний амперметра 100 мА с погрешностью не более 10 мА.

Порядок работы с тестером ясен из описания его схемы и приводимой табли­цы. Микросхему типа ЛП8 серий ТТЛ/ТТЛШ (четыре стробируемых повторителя) следует проверять по логике ИЛИ. Для проверки микросхем К155ЛА18, К155ЛЛ2 в корпусах с восемью выводами (DIP-8) надо замкнуть перемычкой выводы 11 и 14 панели, переключатели SB1, SB2 установить в положение «ЛАЗ», а проверя­емые микросхемы вставить в нижнюю по схеме часть панели (ключ DD5 показан на рисунке пунктиром). При этом индикация исправности осуществляется свето­диодами HL3, HL4, а светодиоды HL1, HL2 мигают.

Нетрудно приспособить данный логический тестер для проверки микросхемы К561КТЗ (и ее аналогов). Для этого нижние по схеме выводы резисторов R13-R16 надо соединить с общим проводом, секции SB1.1, SB2.1 переключателей SB 1 , SB2 установить в положение «ЛЕ1», а секции SB1.2, SB2.2 — в положение «ЛАЗ» и вы­брать опорную логическую функцию 2И.

1. Шило В. Л. Популярные цифровые микросхемы. Справочник. — М.: Радио и связь, 1987.

2. Шило В. Л. Популярные микросхемы КМОП. Справочник.— М.: Ягуар, 1993.

3. Пухальский Г. И., Новосельцева Т. Я. Проектирование дискретных устройств на интеграль­ных микросхемах. Справочник.— М.: Радио и связь, 1990.

4. Петровский И. И. и др. Логические ИС КР1533, КР1554. Справочник. В 2-х частях.— М.: Бином, 1993.

5. КарабутовА. Испытатель полупроводниковых приборов.— Радио, 1995, № 6, с. 28.

Журнал «Радио», 1996,№ 8, с.33

Источник: Измерительные пробники. Сост. А. А. Халоян.— М.: ИП РадиоСофт, ЗАО «Журнал «Радио», 2003.— 244 с: ил.— (Радиобиблиотечка. Вып. 20)

Источник